Sortering af affaldstræ fra byggeri og nedrivning

Tabel 1. Oversigt over sensorteknologier

Målemetode Grundstoffer/materialer metoden kan måle Fraktioner af affaldstræ   Vurderings kriterier
Q1 Q2 Q3 Q4 Q5 Q6 Q7
    Kemisk ubehandlet træ Bark 3) Limholdigt. Halogenfri overfladebehandling Overfladebehandlet træ Kreosotbehandlet træ Saltimprægneret træ Halogenholdig plast/træ compositmaterialer Overflademåling Måling i dybden Håndterbarhed Hastighed Nøjagtighed Samlet vurdering af egnethed i industriel skala
Farveidentifikation Cu           X   Ja Nej Dårlig God God Nej
XRF, håndholdt Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Pb, Hg, Rb, Sr, Zr, Mo, Ag, Cd, Ba, Hg, Pb ¹)   (X)   X   X   Ja Nej Dårlig Lav God Nej
XRF, online Alle med atomnr. > 12 ²)   (X)   X   X X Ja Nej God God God Ja
PGNAA B, Cl, Cr, Cu, Cd, As   (X)   X   X X Ja Ja God God God Ja
UV fluorescence Kreosot, lim     X X X     Ja Nej God God God Ja

1) Typisk, fx Niton XLt 700 Series XRF Analyzer.
2) Atomnr. < 13: H, He , Li, Be, B, C, N, O, F, Ne, Na og Mg.
3) Sammensæ tningen af bark varierer meget. Metodernes muligheder
for at dete ktere r s pe cifikke grundstoffe r som Si, Ca og K e r de rfor
usikre.



Version 1.0 Marts 2010, © Miljøstyrelsen.